集積回路測高検査装置2型
半導体関連
![](https://jp-riseone.co.jp/wp-content/uploads/2021/08/electronic-003.png)
自動ローディングされたJEDECトレー内ICの高さを計測する装置。計測後NG品自動排出。
簡易スペック |
・3D変位計KEYENCE WI-010 2台搭載。 |
---|
自動ローディングされたJEDECトレー内ICの高さを計測する装置。計測後NG品自動排出。
簡易スペック |
・3D変位計KEYENCE WI-010 2台搭載。 |
---|