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製作実績
半導体関連

集積回路測高検査装置2型

半導体関連

自動ローディングされたJEDECトレー内ICの高さを計測する装置。計測後NG品自動排出。

簡易スペック

・3D変位計KEYENCE WI-010 2台搭載。
・計測時間1枚0.35秒。
・トレー入れ替え0.5秒以内。
・JEDECトレー最大セット数40枚自動投入。
・NGワーク自動排出後、OKワーク自動投入

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