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製作実績
FA・画像検査・FA産業関連 半導体関連

【検査機に対して半導体ウェハを自動供給する装置】

キャリアからウェハを取り出し、プリアライメントで位置補正し、検査部にウェハを供給します。
検査後、ウェハを自動退出させ、キャリアの元の位置へウェハを格納します。
除振機構を採用、検査時の振動を防ぎます。

◇プリアライメント機構 XY軸ストローク:±2mm以上、θ軸ストローク角度:±15度以上、吸着テーブル

簡易スペック

■FFU(クリーンファンユニット)付、完全密閉型クリーン環境検査。
■除振機構
■ウェハ有無の自動検出機能
■プリアライメント機構 XY軸ストローク:±2mm以上、θ軸ストローク角度:±15度以上、吸着テーブル。
■ウェハ入れ替えタクトタイム:60秒
■陽圧仕様 26.6x10³ Pa程度
■QRコード読み取り機能:ロット情報

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業界別製作実績

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