集積回路測高検査装置1型
半導体関連
自動または手動でローディングされたリードフレーム内ICの高さを計測する装置
簡易スペック |
・視野角10mm以内、高さ0.7mm以内の計測可能。 |
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自動または手動でローディングされたリードフレーム内ICの高さを計測する装置
簡易スペック |
・視野角10mm以内、高さ0.7mm以内の計測可能。 |
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